JB/T 9400-1999
X射线衍射仪.技术条件

Specification for X-ray diffractometer

JB/T 9400-1999 中，可能用到以下仪器设备

 

EDX-GP能量色散型X射线荧光分析装置

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岛津企业管理（中国）有限公司/岛津（香港）有限公司

 

天瑞手持式P330/P530/P730S/P930能量色散分析仪

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江苏天瑞仪器股份有限公司

 

EDX3600B X荧光光谱仪

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江苏天瑞仪器股份有限公司

 

X荧光光谱仪EDX660

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江苏天瑞仪器股份有限公司

 

HD1000型X荧光光谱仪

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江苏天瑞仪器股份有限公司

 

NITON XL3t-700手持式RoHS分析仪

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赛默飞世尔科技便携式仪器

 

Rigaku理学NEX-CG能量色散X荧光分析仪

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株式会社理学

 

动态干燥度分析仪

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大昌华嘉科学仪器

 

稳定性分析仪(多重光散射仪)

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大昌华嘉科学仪器

 

日立 IM4000PLUS离子研磨仪器

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天美仪拓实验室设备（上海）有限公司

 

帕纳科Zetium X射线荧光光谱仪(XRF)

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英国马尔文仪器有限公司

 

科研手持XRF光谱仪 TRACER 5g/手持光谱仪

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布鲁克光谱仪器公司(BRUKER OPTICS)

 

HORIZON 全反射X荧光光谱仪

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利曼中国

 

多功能粉末X射线衍射仪

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英国马尔文仪器有限公司

 

STEM探测器

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天美仪拓实验室设备（上海）有限公司

 

显微拉曼光谱仪 MR系列

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上海如海光电科技有限公司

 

手持式XRF光谱仪- 有害元素筛选

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牛津仪器（上海）有限公司

 

光束位置感应热电堆功率传感器

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海洋光学亚洲公司

 

Chroma光学产品

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海洋光学亚洲公司

 

Chroma光学产品（一）

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海洋光学亚洲公司

 

反射模式样品进样器（粉末衍射）

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北京优纳珂科技有限公司

 

布鲁克 D8 D8 ADVANCE 达芬奇 X射线衍射仪

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布鲁克衍射荧光事业部（AXS）

 

X-Supreme8000能量色散X射线荧光光谱仪

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日立分析仪器（上海）有限公司

 

日立EA1000VX X射线荧光分析仪

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日立分析仪器（上海）有限公司

 

NT-MDT Ntegra Platform 原子力显微镜（AFM）平台

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布鲁克 LYNXEYE XE 能量色散型一维阵列探测器

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布鲁克衍射荧光事业部（AXS）

 

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奥林巴斯 XRF分析仪 GoldXpert

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奥林巴斯（中国）有限公司

 

X射线异物分析装置 EA8000

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日立分析仪器（上海）有限公司

 

CellHesion200单细胞力谱仪显微镜

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DT/仪思奇（北京）科技发展有限公司

 

D8 DISCOVER X 射线衍射系统

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EDX-6800合金分析仪

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深圳市善时仪器有限公司

 

液态金属靶X射线源

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QUANTUM量子科学仪器贸易（北京）有限公司

 

手持数显式折光仪

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优莱博技术（北京）有限公司

 

PR21 系列在线折光仪

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数字阿贝折射仪

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山东盛泰仪器有限公司

 

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梅特勒-托利多中国（Mettler-Toledo）

 

岛津微焦点X射线透视检查装置 SMX-1000 Plus/1000L Plus

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岛津（上海）实验器材有限公司

 

ABI/赛默飞 3100 DNA测序仪,基因分析仪

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赛默飞 310 DNA测序仪,基因分析仪

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3130 和 3130xl 基因分析仪/测序仪

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赛默飞 DM5018室外颗粒物连续监测仪

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XtaLAB P200 小分子单晶X射线分析装置

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株式会社理学

 

岛津MAXima_X XRD-7000X射线衍射仪

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XD-2/XD-3/XD-6 自动X射线粉末衍射仪

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北京普析通用仪器有限责任公司

 

JB/T 9400-1999

标准号
JB/T 9400-1999
发布日期
1999年08月06日
实施日期
2000年01月01日
废止日期
2010-07-01
中国标准分类号
N33
发布单位
CN-JB
代替标准
JB/T 9400-2010
适用范围
　　本标准规定了多晶X射线衍射仪的技术要求、检验规则和试验方法等。 本标准适用于多晶X射线射衍射仪。

JB/T 9400-1999 中可能用到的仪器设备

扫描探针/原子力显微镜SPM/AFM X射线显微镜 电镜制样设备 X射线(衍射)仪/能谱仪部件及外设 X射线散射仪 X射线衍射仪(XRD) X荧光光谱/XRF（能量色散型X荧光光谱仪） 折光仪(折射仪) 其它光学测量仪 X射线实时成像检测系统 X射线探伤机、X射线探伤仪 基因/DNA测序仪 PM2.5/PM10/PM1/TSP环境大气颗粒物监测仪

谁引用了JB/T 9400-1999 更多引用

SN/T 3514-2013 电工钢晶粒取向与无取向鉴定方法 X射线衍射测定织构法


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