JB/T 4220-1999
人造石墨的点阵参数测定方法

Determination method of artificial graphite lattice parameter


JB/T 4220-1999 中,可能用到以下仪器

 

X射线衍射仪 XRD-6100型

X射线衍射仪 XRD-6100型

岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司

 

岛津X射线衍射仪XRD-6000

岛津X射线衍射仪XRD-6000

岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司

 

SAXSess mc^2小角X-射线散射仪

SAXSess mc^2小角X-射线散射仪

安东帕(上海)商贸有限公司

 

X射线衍射仪 XRD-7000

X射线衍射仪 XRD-7000

岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司

 

XD2/3系列衍射仪

XD2/3系列衍射仪

北京普析通用仪器有限责任公司

 

XD6/7系列衍射仪

XD6/7系列衍射仪

北京普析通用仪器有限责任公司

 

Emma系列X射线衍射仪

Emma系列X射线衍射仪

北京东西分析仪器有限公司

 

岛津微焦点X射线透视装置 SMX-3500M

岛津微焦点X射线透视装置 SMX-3500M

岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司

 

JB/T 4220-1999



标准号
JB/T 4220-1999
发布日期
1999年08月06日
实施日期
2000年01月01日
废止日期
2012-04-01
中国标准分类号
K16
国际标准分类号
29.050
发布单位
CN-JB
代替标准
JB/T 4220-2011
适用范围
  本标准规定了用X射线粉末衍射法(衍射仪法)测定人造石墨的点阵参数的方法,并通过点阵参数求得人造石墨的石墨化度。本方法适用于经过高温热处理的石墨化度高的人造石墨(如人造金刚石用石墨等)。

JB/T 4220-1999 中可能用到的仪器设备


谁引用了JB/T 4220-1999 更多引用





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