JB/T 3282-1999
测定固体绝缘材料相对耐表面放电击穿能力的试验方法

Test methods for determining the relative resistance of insulating meterials to breardown by surface discharges


JB/T 3282-1999 中,可能用到以下仪器

 

3730 & 3730xl DNA 基因分析仪-Life Tech(applied biosystems)

3730 & 3730xl DNA 基因分析仪-Life Tech(applied biosystems)

赛默飞世尔科技生命科学产品

 

JB/T 3282-1999



标准号
JB/T 3282-1999
发布日期
1999年08月06日
实施日期
2000年01月01日
废止日期
2010-02-25
中国标准分类号
K15
国际标准分类号
29.035.01
发布单位
CN-JB
适用范围
  本标准规定了固体绝缘材料相对耐表面放电击穿能力的试验方法。 本标准适用于评定固体绝缘材料暴露于表面放电时的相对耐击穿能力。

JB/T 3282-1999 中可能用到的仪器设备


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