ISO 21222:2020
表面化学分析.扫描探针显微镜.用原子力显微镜和两点JKR法测定柔顺材料弹性模量的程序
Surface chemical analysis — Scanning probe microscopy — Procedure for the determination of elastic moduli for compliant materials using atomic force microscope and the two-point JKR method
- 标准号
- ISO 21222:2020
- 发布
- 2020年
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 当前最新
- ISO 21222:2020
- 引用标准
- ISO 11775 ISO 18115-2
- 适用范围
- 本文件描述了使用原子力显微镜 (AFM) 测定顺应性材料的弹性模量的程序。 测量柔顺材料表面上的力-距离曲线，并使用基于 Johnson-Kendall-Roberts (JKR) 理论的两点法进行分析。 本文件适用于弹性模量范围为 100 kPa 至 1 GPa 的合规材料。 空间分辨率取决于 AFM 探针与表面之间的接触半径，通常约为 10-20 nm。
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