SJ/T 11210-1999
石英晶体元件参数的测量.第4部分:频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算

Measurement of quartz crystal unit parameters.Part4:Method for the measurement of the load resonance frequency fL,load resonance resistance RL and the calculation of other derived values of quartz crystal units,up to 30MHz

SJT11210-1999, SJ11210-1999


标准号
SJ/T 11210-1999
别名
SJT11210-1999, SJ11210-1999
发布
1999年
发布单位
行业标准-电子
当前最新
SJ/T 11210-1999
 
 
适用范围
本标准规定了频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率f|(L)和负载谐振电阻R|(L)的简单测量方法。从这两项测量可计算出由IEC122-1修改1中定义的负载谐振频率偏置△F|(L),频率牵引范围△f|(L|(1)L|(2))和牵引灵敏度S。

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