SJ 20788-2000
半导体二极管热阻抗测试方法

Measurment method for thermal impedance of semiconductor diodes

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标准号: SJ 20788-2000
发布日期: 2000年10月20日
实施日期: 2000年10月20日
废止日期: 无
中国标准分类号: L41
国际标准分类号: 31.080.10
发布单位: CN-SJ

SJ 20788-2000 中可能用到的仪器设备

分子荧光光谱/荧光分光光度计导热仪、热导仪滴定器芯片扫描仪信号采集处理

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