KS D 1686-2011(2021)
铁合金的x射线荧光光谱分析方法

Method for x-ray fluorescence spectrometric analysis of ferroalloys


KS D 1686-2011(2021) 中,可能用到以下仪器

 

荧光光谱仪珀金埃尔默分子荧光 上转换材料的荧光光谱分析法

荧光光谱仪珀金埃尔默分子荧光 上转换材料的荧光光谱分析法

珀金埃尔默企业管理(上海)有限公司

 

天瑞仪器 铁合金 X荧光合金分析仪 EDX3600H

天瑞仪器 铁合金 X荧光合金分析仪 EDX3600H

江苏天瑞仪器股份有限公司

 

天瑞仪器 任何合金 X荧光合金分析仪 EDX3600H

天瑞仪器 任何合金 X荧光合金分析仪 EDX3600H

江苏天瑞仪器股份有限公司

 

天瑞仪器 镍合金 X荧光合金分析仪 EDX3600H

天瑞仪器 镍合金 X荧光合金分析仪 EDX3600H

江苏天瑞仪器股份有限公司

 

天瑞仪器 锌合金 X荧光合金分析仪 EDX2000H

天瑞仪器 锌合金 X荧光合金分析仪 EDX2000H

江苏天瑞仪器股份有限公司

 

标准号
KS D 1686-2011(2021)
发布
2011年
发布单位
韩国科技标准局
当前最新
KS D 1686-2011(2021)
 
 

KS D 1686-2011(2021)相似标准


推荐

熔融制样X射线荧光光谱法分析铁合金

、钼铁、钨铁、硅钙、硅钙钡、硅铝钙钡…附件应用报告是熔融制样X射线荧光光谱法分析硅铁报告,熔融制样时以Li2CO3为氧化剂,在800℃下对样品进行预氧化后熔融制样,玻璃片均匀透明,对坩埚没有腐蚀。...

X射线荧光光谱分析方法检出限

1检出限定义按IUPAC(国际纯粹与应用化学联合会)推荐,检出限(LLD)按统计学定义方式表示,即背景强度(空白)值标准偏差三倍对应含量。普遍采用检出限计算方法:背景强度平方根三倍所对应含量。▲注:上述描述引用自:高新华,宋武元,邓赛文,胡坚。实用X射线光谱分析。...

XRF(X射线荧光光谱分析)各品牌介绍

1.美国Xenemetrix(能量色散) 美国Xenemetrix在过去30年内一直是能量色散X射线荧光光谱分析方面的领先创新者,而X-Calibur更是Xenemetrix多年经验和专业知识顶峰设计,该仪器占地面积少、性能优越。强大50kV,50瓦特X-Calibur能量色散X射线荧光光谱仪装在单机柜中并用于在工作台上运行。...

X射线荧光光谱分析技术|样品分析层厚度

1X射线荧光信号来自于样品哪个位置通常认为X射线荧光信号来自于样品表面,样品内部X射线荧光信号会被样品吸收而不能射出样品。对于大多数地质和矿物样品(比如岩石、铁矿、水泥等),X射线荧光信号主要来自于样品几百微米表面,越靠近表面的X射线信号越容易射出样品。X射线在样品中穿透深度,取决于X射线波长和样品成分:波长越短,穿透深度越大。重元素产生X射线穿透厚度深。...


KS D 1686-2011(2021) 中可能用到的仪器设备





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号