EN 60793-1-43:2015
光纤第 1-43 部分：测量方法和测试程序数值孔径测量

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适用范围: IEC 60793-1-43:2015 制定了测量光纤数值孔径的统一要求，从而有助于商业用途的光纤和电缆的检查。 A1、A2、A3和A4类多模光纤的数值孔径（NA）是描述光纤聚光能力的重要参数。它用于预测发射效率、接头处的接头损耗以及微/宏观弯曲性能。数值孔径是通过测量远场方向图 (NAff) 来定义的。在某些情况下，文献中使用理论数值孔径（NAth），它可以通过测量纤芯和包层之间的折射率差来确定。理想情况下，这两种方法应该产生相同的值。 IEC 60793-1-43 第二版与 IEC 60793-4X 系列中的其他标准一起取消并取代了 2001 年发布的 IEC 60793-1-43 第一版，并构成了技术修订版。与前一版本相比，该版本包括以下重大技术变化：　——范围扩大到包括 A1、A2、A3 和 A4 多模光纤类别；　——添加了样本长度和阈值的测量参数，产品特定于现在在产品规格中找到的变量；　——标题为“NA 测量的产品特定默认值”的新附录 B；　——添加了用于测量 A4d 纤维 NA 的新技术 4；　——标题为“将 NA 测量映射到替代长度”的新附件 A，提供了将较短样本长度测量与参考测试方法 Naff 中建议的长度相关联的映射函数。关键词：光纤数值孔径，光纤光缆检测

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