KS D ISO 19319-2005(2020)
表面化学分析－俄歇电子能谱和X射线光电子能谱－分析仪横向分辨率、分析面积和样品面积的测定

Surface chemical analysis－Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy－Determination of lateral resolution, analysis area, and sample area viewed by the analyzer

 

 

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 KS D ISO 19319-2005(2020) 前三页，或者稍后再访问。

如果您需要购买此标准的全文，请联系： 。

点击下载后，生成下载文件时间比较长，请耐心等待......

 

标准号
KS D ISO 19319-2005(2020)
发布
2005年
发布单位
KR-KS
 
 

KS D ISO 19319-2005(2020)相似标准

GB/T 29556-2013 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定 GB/T 28632-2012 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.横向分辨率测定 ISO 18516:2006 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.横向分辨率测定 BS ISO 18516:2006 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.横向分辨率测定 ISO/TR 19319:2003 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测

推荐

材料能谱分析

随着微电子技术的发展，XPS也在不断完善，目前，已开发出的小面积X射线光电子能谱，大大提高了XPS的空间分辨能力。通过对样品进行全扫描，在一次测定中即可检测出全部或大部分元素。因此，XPS已发展成为具有表面元素分析、化学态和能带结构分析以及微区化学态成像分析等功能强大的表面分析仪器。X射线光电子能谱的理论依据就是爱因斯坦的光电子发散公式。...

能谱分析

随着微电子技术的发展，XPS也在不断完善，目前，已开发出的小面积X射线光电子能谱，大大提高了XPS的空间分辨能力。通过对样品进行全扫描，在一次测定中即可检测出全部或大部分元素。因此，XPS已发展成为具有表面元素分析、化学态和能带结构分析以及微区化学态成像分析等功能强大的表面分析仪器。X射线光电子能谱的理论依据就是爱因斯坦的光电子发散公式。...

多功能电子能谱仪

技术指标　　X射线光电子能谱（XPS），可使用单色化Al靶X射线源及双阳极Al/Mg靶X射线源，包括大面积XPS（0.8×2 mm），微区XPS（最小选区15 μm）、深度剖析XPS及XPS成像，空间分辨率＜3 μm；场发射俄歇电子能谱（AES），包括深度剖析AES；扫描俄歇显微成像（SAM）；紫外光电子能谱（UPS）等。　　主要功能　　主要用于固体样品表面的组成、化学状态分析。...

KS D ISO 19319-2005(2020) 中可能用到的仪器设备

X荧光光谱/XRF（能量色散型X荧光光谱仪） 固体(粉末)表面分析仪 比表面积仪/动态法 孔径分析仪/静态比表面 叶面积测定仪


Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证：京ICP证110310号