KS D ISO 15632-2018
微束分析 - 用于电子探针微量分析的能量色散X射线光谱仪的规范和检查的选定仪器性能参数

Microbeam analysis — Selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energy-dispersive X-ray spectrometers for use in electron probe microanalysis


 

 

非常抱歉,我们暂时无法提供预览,您可以试试: 免费下载 KS D ISO 15632-2018 前三页,或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准,点击右侧 “购买” 按钮开始采购(由第三方提供)。

点击下载后,生成下载文件时间比较长,请耐心等待......

 

标准号
KS D ISO 15632-2018
发布
2018年
发布单位
KR-KS
当前最新
KS D ISO 15632-2018
 
 

KS D ISO 15632-2018相似标准


推荐

xrfepma两种成分分析方法有何区别

2.X射线谱仪   电子轰击样品表面将产生特征X射线,不同元素有不同X射线特征波长能量。通过鉴别其特征波长或特征能量就可以确定所分析元素。利用特征波长来确定元素仪器叫做波长色散谱仪(波谱仪WDS),利用特征能量就称为能量色散谱仪(能谱仪EDS)。电子探针分析方法1.点分析用于测定样品上某个指定点化学成分。   2.线分析用于测定某种元素沿给定直线分布情况。   ...

EPMAEMPA区别

电子探针在镜筒部分加装光学显微镜,以选择确定分析点 。   2.X射线谱仪   电子轰击样品表面将产生特征X射线,不同元素有不同X射线特征波长能量。通过鉴别其特征波长或特征能量就可以确定所分析元素。利用特征波长来确定元素仪器叫做波长色散谱仪(波谱仪WDS),利用特征能量就称为能量色散谱仪(能谱仪EDS)。电子探针分析方法  1.点分析用于测定样品上某个指定点化学成分。   ...

电子探针X射线显微分析仪简介

  电子探针X射线显微分析仪,简称电子探针。是指以聚焦高速电子来激发出试样表面组成元素特征X射线,并根据X射线波长强度,对区成分进行定性或定量分析一种材料物理仪器电子探针分析原理是以电子轰击试样表面,击出表面组成元素原子内层电子,使原子电离,此时外层电子迅速填补空位而释放能量,从而产生特征X射线。不同元素有不同X射线特征波长能量。...

【干货】电子探针显微分析仪这么飒?

电子探针显微分析(EPMA = Electron Probe Microanalysis),全称:电子探针x射线显微分析,是一种显微分析成分分析相结合分析。适用于分析试样中微小区域化学成分,是研究材料组织结构元素分布状态有效方法。电子探针显微分析是利用聚焦电子(电子探测针)照射试样表面待测微小区域,从而激发试样中元素产生不同波长(或能量)特征X射线。...


KS D ISO 15632-2018 中可能用到的仪器设备





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号