GB/T 41765-2022
碳化硅单晶位错密度的测试方法
Test method for dislocation density of monocrystalline silicon carbide
GBT41765-2022, GB41765-2022
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- 标准号
- GB/T 41765-2022
- 别名
- GBT41765-2022
GB41765-2022 - 发布
- 2022年
- 发布单位
- 国家质检总局
- 当前最新
- GB/T 41765-2022
- 引用标准
- GB/T 14264 GB/T 30656
- 适用范围
- 本文件规定了碳化硅单晶位错密度的测试方法。 本文件适用于晶面偏离{0001}面、偏向<1120>方向0 °~8 °的碳化硅单晶位错密度的测试。
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GB/T 41765-2022 中，所使用到的仪器：
