ASTM D8331/D8331M-20
用加固光学干涉法用非破坏性方法测量薄膜涂层厚度的标准试验方法

Standard Test Method for Measurement of Film Thickness of Thin-Film Coatings by Non-Destructive Means Using Ruggedized Optical Interference


说明:

  • 此图仅显示与当前标准最近的5级引用;
  • 鼠标放置在图上可以看到标题编号;
  • 此图可以通过鼠标滚轮放大或者缩小;
  • 表示标准的节点,可以拖动;
  • 绿色表示标准:ASTM D8331/D8331M-20 , 绿色、红色表示本平台存在此标准,您可以下载或者购买,灰色表示平台不存在此标准;
  • 箭头终点方向的标准引用了起点方向的标准。
ASTM D8331/D8331M-20

标准号
ASTM D8331/D8331M-20
发布
2020年
发布单位
美国材料与试验协会
当前最新
ASTM D8331/D8331M-20
 
 
1.1 本测试方法包括测量卷材涂覆的有机涂层的膜厚。操作员可以在涂层应用过程中或在实验室环境中使用此方法。 1.2 本测试方法没有规定涂层的预期膜厚/测试结果,也没有规定测量涂层所需的具体“配方”文件。 1.3 以 SI 单位或英寸-磅单位表示的值应单独视为标准。每个系统中规定的值不一定完全相同;因此,为了确保符合标准,每个系统应独立使用,并且两个系统的值不...

推荐

【百年传承】安东帕表面力学测试仪器开放日

涂层厚度符合工业标准:ISO 26423:2009、ISO 1071-2、VDI 3198等球坑磨损测试:使用已知尺寸球在涂层上磨出一定尺寸冠状球坑,利用光学显微镜观察并测量球坑尺寸,通过几何模型推导计算涂层厚度。适用于单层或多层涂层,可以测量平面、圆柱面或球面。测量方法简单快速,只需1到2分钟即可测量涂层厚度。...

包装检测仪器相关标准汇总(2)

ISO 8510-2 胶粘剂.软硬粘合试样组件剥离试验.第2部分:180度剥离   7. ASTM D4917 用水平面测量涂层书写印刷纸动态和静态摩擦系数方法   8. TAPPI T816 波纹和实心纤维板水平面方法静摩擦系数   9. TAPPI T815 om-2001包装与包装材料静摩擦系数测定 倾斜法   10....

半导体工艺监测中光谱应用

基于光波干涉现象,光束照射在薄膜表面,由于入射介质、薄膜材料和基底材料具有不同折射率值和消光系数值,使得光束在透明/半透明薄膜上下表面发生反射,反射光波相互干涉,从而形成干涉光,这些干涉光在不同相位处强度将随着薄膜厚度发生变化。通过对干涉检测,结合适当光学模型即可计算得到薄膜厚度。海洋光学膜厚仪检测系统,配置有采样平台、UV-VIS反射探头,配置如下。...

FMP10/FMP20手持式涂镀层测厚仪技术资料

根据磁感应和/或电涡流涂层进行破坏性测量.    ...


谁引用了ASTM D8331/D8331M-20 更多引用





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号