ASTM E1931-16(2022)
X射线康普顿散射断层摄影的标准指南

Standard Guide for Non-computed X-Ray Compton Scatter Tomography

标准号

ASTM E1931-16(2022)

发布

2022年

发布单位

美国材料与试验协会

当前最新

ASTM E1931-16(2022)

 

 

引用标准

ANSI/ASNT CP-189 ASTM E1025 ASTM E1255 ASTM E1316 ASTM E1441 ASTM E1453 ASTM E1475 ASTM E1647 ASTM E747 ISO 9712 MIL-STD-410

适用范围

1.1 目的——本指南提供了教程介绍，旨在让读者熟悉单个非计算 X 射线康普顿散射断层扫描 (CST) 固有的操作功能和限制。还包括 CST 物理原理和典型硬件配置的简要描述。这种单一技术仍用于少量检查。这并不意味着作为涵盖目前用于无损检测和安全屏幕筛选的各种康普顿散射技术的综合指南。
1.2 优点——X 射线康普顿散射断层扫描 (CST) 是一种放射学无损检查方法，具有以下几个优点：
1.2.1 无需接触检查对象的另一侧即可进行 X 射线检查； 1.2.2 X射线束不需要完全穿透检查对象，从而可以对较厚的对象进行部分检查。厚的检查物体成为辐射屏蔽的一部分，从而减少辐射危害； 1.2.3 在受表面特征影响最小的情况下检查和成像物体地下特征的能力； 1.2.4 能够从低主体对比度材料中获取高对比度图像，而在使用传统透射束 X 射线成像方法时，这些材料通常会产生低对比度图像； 1.2.5 获得物体特征深度信息从而提供三维检查的能力。获得深度信息的能力以使用具有窄接收角的高度准直探测器系统为前提。
1.3 应用——本指南没有指定哪些检查对象适合或不适合 CST。与大多数无损检测技术一样，CST 具有高度的应用特定性，因此需要首先在应用实验室中证明该方法的适用性。本指南不提供 CST 技术标准化实践或应用的指导。没有提供有关接受或拒绝 CST 检查的检查对象的指导。
1.4 局限性——与所有无损检测方法一样，CST 也有局限性，并且是其他 NDE 方法的补充。其中最主要的限制是在高 Z 材料的厚截面上执行 CST 很困难。 CST 最适合应用于较低 Z 材料的较薄部分。下面提供了使用 160 keV 恒电位 X 射线源时 CST 适用范围的一般概念： 材料 实际厚度范围 钢 最大约 3 毫米（1⁄8 英寸） 铝 最大约 25 毫米（1 英寸） .) 航空航天复合材料 最大约 50 毫米（2 英寸） 聚氨酯泡沫 最大约 300 毫米（12 英寸） 该技术的局限性还必须考虑所需的 X、Y 和 Z 轴分辨率、图像形成速度、图像质量以及母体材料和要成像的内部特征的 X 射线散射特性的差异。
1.5 以英寸-磅和 SI 单位表示的数值应分别视为标准。括号中给出的值仅供参考。
1.6 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任建立适当的安全、健康和环境实践，并在使用前确定监管限制的适用性。
1.7 本国际标准是根据世界贸易组织贸易技术壁垒（TBT）委员会发布的《关于制定国际标准、指南和建议的原则的决定》中确立的国际公认的标准化原则制定的。

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