GB/T 33657-2017
纳米技术 晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范

Nanotechnologies—Electrical operating parameter test specification of wafer level nano-scale phase change memory cells

GBT33657-2017, GB33657-2017


标准号
GB/T 33657-2017
别名
GBT33657-2017, GB33657-2017
发布
2017年
发布单位
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
当前最新
GB/T 33657-2017
 
 

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