BS ISO 23484:2023
通过小角 X 射线散射 (SAXS) 测定颗粒浓度
Determination of particle concentration by small-angle X-ray scattering (SAXS)
- 标准号
- BS ISO 23484:2023
- 发布
- 2023年
- 发布单位
- 英国标准学会
- 当前最新
- BS ISO 23484:2023
BS ISO 23484:2023相似标准
推荐
小角X射线散射的简介
小角X射线散射（SAXS）是指当X射线透过试样时，在靠近原光束2°～5°的小角度范围内发生的散射现象。早在1930年，Krishnamurti就观察到炭粉、炭黑和各种亚微观大小的微粒在X射线透射光附近出现连续散射现象。 小角X射线散射被越来越多地应用于材料微观结构研究，其研究趋势逐年增长。...
Bruker拓展其小角X射线散射产品进行高通量纳米结构分析
Bruker拓展其小角X射线散射(SAXS)产品组合进行高通量纳米结构分析 佛罗里达州奥兰多，2012年3月12日——在Pittcon 2012上，Bruker公司宣布其X-ray衍射和散射产品组合进行高通量纳米分析的战略扩张，此发展策略基于Bruker公司最近收购了一项Kratky小角X-ray散射(SAXS)技术，该项技术之前由奥地利格拉茨的Hecus X射线系统有限公司开发...
纳米材料粒度测试仪器和方法大全
5.X射线小角散射法（SAXS） 当X射线照到材料上时，如果材料内部存在纳米尺寸的密度不均匀区域，则会在入射X射线束的周围2°~5°的小角度范围内出现散射X射线。当材料的晶粒尺寸越细时，中心散射就越漫散，且这种现象与材料的晶粒内部结构无关。SAXS法通过测定中心的散射图谱就可以计算出材料的粒径分布。...
小角X射线散射技术测定纳米颗粒的介绍
小角X射线散射技术被广泛用来测定纳米粉末的粒度分布，其粒度分析结果所反映的既非晶粒亦非团粒，而是一次颗粒的尺寸。在测定中参与散射的颗粒数一般高达数亿个，因此，在统计上有充分的代表性。 通过对Guinier曲线低角区域线性部分的拟合，得到试样中氧化铝颗粒的旋转半径约为6nm，表明在无机纳米杂化薄膜体系中，纳米颗粒未发生团聚现象。...