ASTM E2809-22
在法医聚合物检验中使用扫描电子显微镜/能量色散X射线光谱（SEM/EDS）的标准指南
Standard Guide for Using Scanning Electron Microscopy/Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy (SEM/EDS) in Forensic Polymer Examinations
说明：
- 此图仅显示与当前标准最近的5级引用；
- 鼠标放置在图上可以看到标题编号；
- 此图可以通过鼠标滚轮放大或者缩小；
- 表示标准的节点，可以拖动；
- 绿色表示标准：ASTM E2809-22 ， 绿色、红色表示本平台存在此标准，您可以下载或者购买，灰色表示平台不存在此标准；
- 箭头终点方向的标准引用了起点方向的标准。
- 标准号
- ASTM E2809-22
- 发布
- 2022年
- 发布单位
- 美国材料与试验协会
- 当前最新
- ASTM E2809-22
- 引用标准
- ASTM E1492 ASTM E1610 ASTM E1732 ASTM E2917 ASTM E2937 ASTM E3085 ASTM E3233 ASTM E3234 ASTM E3260 ASTM E620 ASTM E766
- 1.1 本指南涵盖了供对聚合物样品进行 SEM/EDS 分析的法医实验室人员使用的推荐技术和程序。 1.2 本指南描述了聚合物 SEM/EDS 分析中使用的各种技术和程序，包括样品处理和制备、仪器操作条件以及光谱数据收集、评估和解释。 1.3 许多主题的理论方面可以在扫描电子显微镜和 X 射线显微分析 (1) 等文本中找到。2 1.4 本指南旨在在更广泛的分...
推荐
JEOL在Pittcon 2019展出下一代台式扫描电子显微镜JCM-7000
显微镜无缝导航样品，自动聚焦于感兴趣的区域，快速实现高分辨率的SEM成像和分析。 实时分析 使用嵌入式能量色散X射线探测器（EDS），可以自动检测并实时显示EDS光谱和构成样品的主要元素。 实时3D成像 除了实时SEM图像，NeoScope还可以显示样品表面的实时3D图像，包括样品表面形貌和深度信息。 自动操作功能 基于样品类型和应用的自动条件设置可确保高质量的结果并提高生产率。...
布鲁克收购矿物鉴定软件企业Yingsheng Technology
它可以与任一扫描电子显微镜（SEM）和扫描电镜相关的能量色散X射线光谱仪（EDS），或微X射线荧光（μXRF）分析仪一起使用。它的多功能，第三代自动化和前瞻性的定量分析能力，使AMICS成为地质和材料科学研究中的理想工具，以及用于各种工业和探索应用，如采矿、石油与天然气、煤、水泥、精炼和回收等。 ...
电子显微镜的环境解决方案
除了主要优点外，扫描电子显微镜还被证明是一种通用平台，可增加简单成像以外的功能。 可以用场发射枪（FEG）替代或补充热电子枪，这样可以大幅提高SEM的空间分辨率。 SEM可以配备聚焦离子束（FIB）功能，从而进行离子束研磨和沉积。 能量色散X射线光谱仪（EDS或EDX）允许用户使用电子束撞击样品时产生的X射线分析样品的化学成分。 通过在腔室添加探针，用户可以分析样品的导电率。...
sem的eds和mapping什么区别
就定量来说，SEM点分析比线分析和面分析更准确，扫描的方式不同，线分析和面分析只能定性的分析观察视场的元素分布情况（线分析是沿着某个界面的元素分布起伏，而面分析是看整个视场的元素分布情况），点分析可以基本定量分析元素。SEM/EDS是扫描电子显微镜和X-射线能量色散谱仪的简称，两者组合使用，功能非常强大，既能观察微区的形貌又能对微区进行成分分析，在各类分析工作中被广泛运用。...