根据不同材料特性需要,配有多款测试探头: 1)高耐磨碳化钨探针探头,测量硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻; 2)球形镀金铜合金探针探头,测量柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻; 3)配合四端子测试夹具,测量电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻; 4)高温四探针测试仪探头可测试电池极片等箔上涂层电阻率...
有高耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也有球形镀 金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试 夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配专用探头,也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻。 ...
四探针电阻率测试步骤流程半导体采用四探针法测试电阻率及电导率,他的性质在一般情况下,半导体电导率随温度的升高而减小,这与金属导体恰好相反。上述特征的材料都可归入半导体材料的范围。反映半导体材料内在基本性质的却是各种外界因素如光、热、磁、电等作用于半导体而引起的物理效应和现象,这些为半导体材料的半导体性质。半导体材料分为元素半导体、无机化合物半导体、有机化合物半导体和非晶态与液态半导体。...
采用由四端测量方法测试电阻率系统与高温试验箱为一体的专用的高温测试系统,满足半导体及导体材料因温度变化对电阻值变化的测量要求,通以在高温、真空、气氛的条件下测量导电材料电阻和电阻率,可以分析被测样的电阻和电阻率随温度、时间变化的曲线. ...
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