-T-605硅铁推荐修订GB/T 2272-2009ISO 5445:198024320160546-T-605铁合金产品粒度的取样和检测方法推荐修订GB/T 13247-1991ISO 4551:198724420160544-T-605铁矿石 多种微量元素含量的测定 电感耦合等离子体质谱法推荐制定24520160482-T-519航空电子过程管理 高可靠集成电路与分立半导体通用要求推荐制定IEC...
103部分:一般要求-控制设备2014-11-7IEC 62722-2-1 ed1.0Luminaire performance - Part 2-1: Particular requirements for LED luminaires灯具性能--第2-1部分:LED灯具用详细要求2014-11-25IEC 62776 ed1.0Double-capped LED lamps designed to...
ED1半导体器件-微电子机械器件-第33部分:MEMS压阻式压力敏感器件Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 33: MEMS piezoresistive pressure-sensitive device北京大学、河北半导体研究所、北京必创科技股份有限公司、中机生产力促进中心11SC47FIEC 62047...
Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号