IPC WP-019A-2018
离子清洁度要求的全球变化概览

An Overview on Global Change in Ionic Cleanliness Requirements

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标准号

IPC WP-019A-2018

发布

2018年

发布单位

IPC - Association Connecting Electronics Industries

 

 

适用范围

“概述 多年来@军事（例如@ MIL-STD-2000）和商业（例如@ IPC-J-STD-001）制造标准要求制造的电路卡组件（CCA）满足1.56微克的离子清洁度要求（ ??) 每平方厘米 (cm2) 提取表面@ 的氯化钠 (NaCl) 当量，根据 IPC-TM-650@ 方法 2.3.25 使用溶剂提取物电阻率 (ROSE) 测试。IPC 委员会的立场是由于以下原因，每平方厘米 1.56 ?? 氯化钠当量的值应被视为已过时： ?? 该测试方法最初是在 20 世纪 70 年代开发的；它从未打算用作清洁度测试@，也不是用于测试产品可接受性@它仅用作过程控制方法。??使用离子污染值作为产品可接受性的衡量标准是美国国防部希望实施通过/失败标准的结果。 ? 该离子污染值@ 以及由此衍生的离子污染值@ 最初是为高固体（35% 固体）松香助焊剂和臭氧消耗化学品（ODC）清洁而开发的。现在使用的助焊剂化学成分和清洁溶液与制定 ROSE 限值时使用的完全不同。 ??现代组件在残留物方面过于复杂，无法采用单一的“一刀切”清洁标准。 ??越来越多的证据表明，随着 CCA 元件密度的增加，电路对离子污染的敏感性也会增加。现代电路组件的元件密度比 20 世纪 70 年代高得多。这也意味着对 20 世纪 70 年代组件技术影响最小的残留物现在可能对组件可靠性产生重大影响。 ??对于许多组件@ROSE 测试不再是充分预测可接受的离子残留水平的测试方案。 IPC 编制了一系列技术演示文稿，显示 ROSE 不足以预测高性能电子产品的离子残留物（请参阅文档的最后一页）。 ??人们认识到，离子残留物测试对于可靠的电路功能至关重要，因此 ROSE 测试一直在继续使用，直到找到并实施更合适的替代方案。 IPC 技术报告 583 (IPC-TR-583@ 1995) 记录了当时市场上离子污染测试仪的审查。该研究报告称，当时可用的不同系统之间明显缺乏可重复性和再现性，并且使用“等效因子”@关联不同类型测试人员之间的结果@应被视为无效。还应该指出的是，TR-583结论是指那个时代（1990年代）的离子测试仪。许多更现代的离子测试仪配置已被证明是可重复和可再现的。请参阅参考文献 [36] 作为测试现代仪器的重复性和再现性的示例。 IPC-TR-583 的执行摘要作为附录 A 包含在本文件中。完整的技术报告可从 IPC 获取。参考书目部分中的许多其他参考资料可以帮助读者了解 ROSE test@ 的历史以及使用 ROSE 作为产品接受度衡量标准的一些缺点”

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