GB/T 36474-2018
半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法
Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for double data rate 3 synchronous dynamic random access memory(DDR3 SDRAM)
GBT36474-2018, GB36474-2018
说明：
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- 标准号
- GB/T 36474-2018
- 别名
- GBT36474-2018
GB36474-2018 - 发布
- 2018年
- 发布单位
- 国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
- 当前最新
- GB/T 36474-2018
- 引用标准
- GB/T 17574
- 本标准规定了半导体集成电路第三代双倍数据速率同步动态随机存储器(CDDR3 SDRAMD功能验证和电参数测试的方法。 本标准适用于半导体集成电路领域中第三代双倍数据速率同步动态随机存储器(DDR3 SDRAMD)功能验证和电参数测试。