IPC TM-650 2.3.44-2016
通过 X 射线荧光（XRF）光谱法测定化学镀镍（EN）层的厚度和磷含量

Determination of Thickness and Phosphorus Content in Electroless Nickel (EN) Layers by X-Ray Fluorescence (XRF) Spectrometry

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标准号

IPC TM-650 2.3.44-2016

发布

2016年

发布单位

IPC - Association Connecting Electronics Industries

 

 

适用范围

该测试方法的目的是通过（能量色散）X 射线荧光 (XRF) 分析来测量化学（化学镀）沉积镍 (Ni) 涂层的厚度和磷 (P) 浓度。该测量是非破坏性和非接触式的，可以在环境大气或真空下进行。应使用直径为 0.6 毫米的准直器在 1.5 毫米 x 1.5 毫米 [0.060 英寸 x 0.060 英寸] 或等效区域 @ 的定义特征（相当于典型的 SMT 焊盘）上进行测量。这相当于直径为 1 mm 的测量光斑尺寸（分析区域）。该测试方法主要用于故障分析、过程鉴定和过程审核。由于所需设备的复杂性和成本，它不适用于日常生产控制。

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