DIN ISO 15632 E:2022-03由/ 发布于 0000-00-00,并于 0000-00-00 实施。
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DIN ISO 15632 E:2022-03 微光束分析 带半导体探测器能量发散X射线分光仪的仪器规范的最新版本是哪一版?
最新版本是 DIN ISO 15632:2022-09 。
DIN ISO 15632 E:2022-03 是基于 ISO 15632 E 的发版本。
但铍窗口也有缺点,即不能让波长大于6埃的光通过,是故连带的也就限制所能分析的最轻元素,因此所能分析的最轻元素的原子序为大于6,故半导体产业及生物科技产业感兴趣的碳、氧、氮等元素,也可以用XRF来分析。 原理 (XRF)仪器由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X 射线(一次射线),激励被测样品。样品中的每一种元素会放射出的二次X射线,并且不同的元素所放出的二次射线具有特定的能量特性。...
1D6在晶粒尺寸分析方面的优势D6 PHASER在晶粒尺寸分析应用的特征优势包括:优异的2Theta角度分辨率(优于0.03°);高的X射线通量,得益于600 W或1.2 kW高功率高压发生器,紧凑的测角仪半径和自动发散狭缝,以实现在全测量角度范围内X射线照射大面积的特定样品区域;动态光束优化(DBO),来严格控制仪器的背景信号,有利于宽峰分离。...
微 X 射线荧光 (µXRF) 是一种元素分析技术,它允许检测非常小的样品区域。与传统的 XRF 仪器一样,微 X 射线荧光通过使用直接 X 射线激发来诱导来自样品的特性 X 射线荧光发射,以用于元素分析。与传统 XRF 不同(其典型空间分辨率的直径范围从几百微米到几毫米),µXRF 使用 X 射线光学晶体来限制激发光束尺寸或将激发光束聚焦到样品表面上形成小光斑,从而可以分析样品上的小特性。...
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