IEC TS 62607-6-2:2023
纳米制造.关键控制特性.第6-2部分:石墨烯.层数:原子力显微镜、光学透射、拉曼光谱

Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 6-2: Graphene - Number of layers: atomic force microscopy, optical transmission, Raman spectroscopy


标准号
IEC TS 62607-6-2:2023
发布
2023年
发布单位
国际电工委员会
当前最新
IEC TS 62607-6-2:2023
 
 

IEC TS 62607-6-2:2023相似标准


推荐

Nature Nanotechnology:大面积可控单晶石墨多层堆垛制备技术新突破

ONYX采用一体化的反射式太赫兹时域光谱技术(THz-TDS)弥补了传统接触测量方法(如四探针法- Four-probe Method,范德堡法-Van Der Pauw和电阻层析成像法-Electrical Resistance Tomography)及显微方法(原子显微镜-AFM, 共聚焦-Raman,扫描电子显微镜-SEM以及透射电子显微镜-TEM)之间的不足和空白。...

【前沿技术分享】大面积/少层PtS2材料制备与物理特性研究

石墨作为典型的二维纳米材料材料,具备化学、光、电、机械等一系列优良的特性而得到广泛应用,但石墨存在零带隙、光吸收率低等缺点限制了其更广泛的应用,与此同时类石墨材料应运而生,过渡金属硫族化合物(Transition Metal Dichalcogenides, TMDs)作为类石墨材料的典型代表不仅具备类似石墨的范德华结合的层状结构,还拥有优异的光、电、磁等性能,更好地弥补了石墨的缺点,...

磁珠法DNA提取纯化试剂盒检测通则等386项国标公布

-2021纳米技术 纳米材料电阻率的接触式测量方法 通则2021/12/1GB/T 40066-2021纳米技术 氧化石墨厚度测量 原子显微镜法2021/12/1GB/T 40067-2021碳化钨粉末微观组织及缺陷检测方法2021/12/1GB/T 40069-2021纳米技术 石墨相关二维材料的层数测量 光谱法2021/12/1GB/T 40071-2021纳米技术 石墨相关二维材料的层数测量...

二维半导体发展的关键——纳米尺度信息多维度表征 | 光谱技术头条

一方面,光谱和光致发光光谱是表征单层晶体材料电子行为(带隙、载流子浓度)和结构质量(缺陷位置和密度)的首选技术;另一方面,原子显微镜(AFM)已经成为纳米材料发展的一个关键工具,它不仅能提供原子分辨率的形貌图像,还能探测物质表面的物理(电、磁、等)特性。...


IEC TS 62607-6-2:2023 中可能用到的仪器设备





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号