它通过已知晶粒尺寸和堆积密度的均匀粉末来进行校准标核而确定。在对样品做扫描时,每个分离的散射体即代表对应的局部积分界面性质。通过同时测定X射线的折射值和吸收值,可以分析出局部内表面和局部孔率两者之间的波动关系。 特点:本法对样品中局部性小体积范围内的X射线吸收和折射实现了一次性的同时检测,所以能够测出样品内不同部位的孔率和内表面的密度,从而获得孔率河内表面密度的空间分布图像。...
该方法基于来自微结构界面的X射线折射率差异而产生的X射线折射超小角散射探测技术,可直接检测得出尺寸范围在微米级至纳米级范围的内部表面数量和位置。折射强度正比于内表面密度,即式样的表面积与单位体积之比率。它通过已知晶粒尺寸和堆积密度的均匀粉末来进行校准标核而确定。在对样品做扫描时,每个分离的散射体即代表对应的局部积分界面性质。...
5.X射线小角散射法(SAXS) 当X射线照到材料上时,如果材料内部存在纳米尺寸的密度不均匀区域,则会在入射X射线束的周围2°~5°的小角度范围内出现散射X射线。当材料的晶粒尺寸越细时,中心散射就越漫散,且这种现象与材料的晶粒内部结构无关。SAXS法通过测定中心的散射图谱就可以计算出材料的粒径分布。...
▲布鲁克NANOSTAR高亮度纳米星小角X射线散射仪小角X射线散射仪主要用于研究材料的纳米结构。该设备对应的小角X射线散射(SAXS)技术的研究手段主要包括透射小角X射线散射(TSAXS)和掠入射二维小角和广角X射线散射(2D GISAXS和2D GIWAXS)。对应于这些研究手段,其主要应用方向分为下面几个方面:1—聚合物材料聚合物材料广泛地应用在实际生活中的各行各业。...
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