ASTM F1893-18
电离剂量生存率和半导体器件烧坏测量指南
Guide for Measurement of Ionizing Dose-Rate Survivability and Burnout of Semiconductor Devices
- 标准号
- ASTM F1893-18
- 发布
- 2018年
- 发布单位
- 美国材料与试验协会
- 当前最新
- ASTM F1893-18
- 引用标准
- ASTM E170 ASTM E1894 ASTM E668 ASTM F526
- 适用范围
- 1.1 本指南定义了测试半导体器件短脉冲高剂量率电离引起的生存能力和烧毁故障的详细要求。测试设施应能够提供执行测量所需的剂量率。通常，使用在光子模式下运行的大型闪光 X 射线 (FXR) 机器或 FXR 电子束设施，因为它们具有高剂量率能力。如果剂量率足够，可以使用电子线性加速器 (LINAC)。描述了两种测试模式：(1) 生存能力测试，以及 (2) 烧坏故障级别测试。
1.2 国际单位制（SI）中规定的值被视为标准值。本标准不包含其他计量单位。
1.3 本国际标准是根据世界贸易组织贸易技术壁垒（TBT）委员会发布的《关于制定国际标准、指南和建议的原则的决定》中确立的国际公认的标准化原则制定的。