DIN SPEC 52407:2015-03
纳米技术 使用原子力显微镜(AFM)和透射扫描电子显微镜(TSEM)进行粒子测量的准备和评估方法
Nanotechnologies - Methods for preparation and assessment for particle measurements with atomic force microscopy (AFM) and transmission scanning electron microscopy (TSEM)
- 标准号
- DIN SPEC 52407:2015-03
- 发布
- 2015年
- 发布单位
- 德国标准化学会
- 当前最新
- DIN SPEC 52407:2015-03
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