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在现代高频技术中,用矢量网络分析方法测量散射参数是表征晶片上(平面)制造组件的最重要方法之一,例如5G通信技术应用所需的这些组件。为达到这个目的,工业界首选的测量方法包括自动化晶片探测器,它通常在探针尖端的恒定距离上进行操作,并使用商用校准基片(阻抗标准基片,ISS)进行系统误差校正(校准)。然而,迄今为止,用这些基片进行的误差校准在许多应用中都不太准确,特别是在较高频率的应用中。...
3、校准参数:A、内置流量校准装置,通过采样罐的真空压力变化测定采样流速,系统软件可自动校正流速;B、内置高精度真空传感器,测量0-101kPa真空压力,分辨率2Pa (0.0003Psi);C、每通道流量可独立通过软件参数设定采样流量范围;D、仪器内置标准容积400CC流量校正苏玛罐,配合真空泵,真空压力传感器 用固定容量单位时间压力变化来校正流量;E、校正装置本身容积可通过高精度天平称量校准。...
可存储 1000 次测试、20 个操作员、100 种样品名称、21 种测试方法统计分析(最小值、最大值、平均值、重复性)测量含硅样品的闪点没有任何问题自动点燃测试火焰,通过电子点火器可将其重新点燃,并且在测试结束时可切断气源对不符合技术规格的结果发出讯息提示Pt100 样品温度探头可通过经用户认证的ASTM 温度计进行动态校准,或通过具有21 个校准点的校正表进行校准标准方法:ASTM D92、ISO...
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