ASTM E1426-14(2019)e1
用X射线衍射技术测定残余应力测量用X射线弹性常数的标准试验方法

Standard Test Method for Determining the X-Ray Elastic Constants for Use in the Measurement of Residual Stress Using X-Ray Diffraction Techniques


标准号
ASTM E1426-14(2019)e1
发布
2019年
发布单位
美国材料与试验协会
当前最新
ASTM E1426-14(2019)e1
 
 
引用标准
ASTM E1237 ASTM E4 ASTM E6 ASTM E7
适用范围
1.1 本测试方法涵盖了通过实验确定 X 射线弹性常数 (XEC) 的程序,以通过 X 射线衍射技术评估残余应力和外加应力。 XEC 将宏观应力与多晶样品中特定晶体方向上测量的应变联系起来。 XEC 是弹性模量、材料的泊松比以及为测量选择的 hkl 平面的函数。有两个 XEC 称为 1⁄2 S2 hkl 和 S1 hkl 。
1.2 本测试方法适用于所有用于测量宏观残余应力的 X 射线衍射仪器,这些仪器使用高背反射区域中衍射峰位置的测量来确定晶格间距的变化。
1.3 本测试方法适用于所有用于残余应力测量的X射线衍射技术,包括单次、双次和多次曝光技术。
1.4 以 SI 单位表示的值应被视为标准值。 SI 单位后面括号中给出的值仅供参考,不被视为标准值。
1.5 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题(如果有)。本标准的使用者有责任建立适当的安全、健康和环境实践,并在使用前确定监管限制的适用性。
1.6 本国际标准是根据世界贸易组织贸易技术壁垒(TBT)委员会发布的《关于制定国际标准、指南和建议的原则的决定》中确立的国际公认的标准化原则制定的。

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