KS D ISO 23833-2022
微束分析.电子探针显微分析(EPMA).词汇

Microbeam analysis — Electron probe microanalysis (EPMA) — Vocabulary


KS D ISO 23833-2022 中,可能用到以下仪器设备

 

岛津EPMA-8050G场发射电子探针

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岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司

 

岛津EPMA-1720系列电子探针

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岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司

 

电子探针

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岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司

 

日本电子JXA-8230 电子探针显微分析仪

日本电子JXA-8230 电子探针显微分析仪

日本电子株式会社(JEOL)

 

标准号
KS D ISO 23833-2022
发布
2022年
发布单位
KR-KS
当前最新
KS D ISO 23833-2022
 
 

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