DB65/T 3486-2013
太阳能级多晶硅块红外探伤检测方法

Infrared flaw detection method for solar-grade polysilicon block


DB65/T 3486-2013 中,可能用到以下仪器

 

LABNIRS功能性近红外光脑成像系统

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岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司

 

Continuum XL 红外化学成像系统 (IR-Imaging)

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赛默飞世尔科技(中国)有限公司

 

Continuum XL 红外化学成像系统 (IR-Imaging)

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赛默飞测量控制和样品识别

 

大尺寸LBO晶体

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上海昊量光电设备有限公司

 

碳化硅红外光源

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北京卓立汉光仪器有限公司

 

红外光源

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DB65/T 3486-2013

标准号
DB65/T 3486-2013
发布
2013年
发布单位
新疆维吾尔自治区标准
当前最新
DB65/T 3486-2013
 
 

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