GB/T 42676-2023
半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法

X-ray Diffraction Method for Testing the Quality of Semiconductor Single Crystal

GBT42676-2023, GB42676-2023


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标准号
GB/T 42676-2023
别名
GBT42676-2023
GB42676-2023
发布
2023年
发布单位
国家质检总局
当前最新
GB/T 42676-2023
 
 

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