KS D 2716-2008(2018)
纳米颗粒直径的测量-透射电子显微镜

Measurement of nanoparticle diameter-Transmission electron microscope


KS D 2716-2008(2018) 中,可能用到以下仪器设备

 

日本电子JEM-1400Flash 透射电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

JEM-2100F 场发射透射电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

JEM-3200FS 场发射透射电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

JEM-2800 高通量透射电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

Krios G4冷冻透射电子显微镜(cryo-TEM)

Krios G4冷冻透射电子显微镜(cryo-TEM)

赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

JEM-2200FS 透射电子显微镜

JEM-2200FS 透射电子显微镜

日本电子株式会社(JEOL)

 

JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜

JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜

日本电子株式会社(JEOL)

 

Themis透射电子显微镜

Themis透射电子显微镜

赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

JEM-2100 透射电子显微镜

JEM-2100 透射电子显微镜

日本电子株式会社(JEOL)

 

JEM-1000 超高压透射电子显微镜

JEM-1000 超高压透射电子显微镜

日本电子株式会社(JEOL)

 

FEI Titan ETEM G2 透射电子显微镜

FEI Titan ETEM G2 透射电子显微镜

赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

Talos L120C 透射电子显微镜

Talos L120C 透射电子显微镜

赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

Tecnai G2 20 200kV透射电子显微镜

Tecnai G2 20 200kV透射电子显微镜

赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

Talos Arctica G2冷冻透射电子显微镜

Talos Arctica G2冷冻透射电子显微镜

赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

JEM-1400Plus 透射电子显微镜

JEM-1400Plus 透射电子显微镜

日本电子株式会社(JEOL)

 

Titan Krios G2冷冻透射电子显微镜(cryo-TEM)

Titan Krios G2冷冻透射电子显微镜(cryo-TEM)

赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

JEM-2100Plus 透射电子显微镜

JEM-2100Plus 透射电子显微镜

日本电子株式会社(JEOL)

 

Tecnai G2 Spirit 120kV透射电子显微镜

Tecnai G2 Spirit 120kV透射电子显微镜

赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

Delong LVEM25 小型低电压透射电子显微镜

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QUANTUM量子科学仪器贸易(北京)有限公司

 

ZEISS蔡司LIBRA能量过滤式透射电子显微镜

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卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

超小型低电压台式透射电子显微镜LVEM5

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QUANTUM量子科学仪器贸易(北京)有限公司

 

ORIONTM氦离子显微镜

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卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

 

 

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标准号
KS D 2716-2008(2018)
发布
2008年
发布单位
KR-KS
 
 

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