ASTM E1161-21
半导体和电子元件射线照相检验的标准实施规程
Standard Practice for Radiographic Examination of Semiconductors and Electronic Components
- 标准号
- ASTM E1161-21
- 发布
- 2021年
- 发布单位
- 美国材料与试验协会
- 当前最新
- ASTM E1161-21
- 引用标准
- ANSI/ASNT CP-189 ANSI/ESD S20.20 ASTM E1000 ASTM E1079 ASTM E1255 ASTM E1316 ASTM E1390 ASTM E1411 ASTM E1453 ASTM E1475 ASTM E1742/E1742M ASTM E1815 ASTM E1817 ASTM E1936 ASTM E2002 ASTM E2007 ASTM E2033 ASTM E2339 ASTM E2445/E2445M ASTM E2597/E2597M ASTM E2698 ASTM E2736 ASTM E2737 ASTM E431 ASTM E543 ASTM E666 ASTM E801 ASTM E94/E94M ASTM E999 ISO 9712 MIL-PRF-28861 MIL-STD-202 MIL-STD-750 MIL-STD-883 MIL-STD-981
- 适用范围
- 1.1 本规范规定了半导体器件、微电子器件、电磁器件、电子电气器件以及用于构建这些项目的材料的无损射线照相检验的最低要求。 1.2?本次实践