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高纯铜靶材分析辉光放电质谱法(GDMS)是进行高纯铜中痕量杂质元素含量的标准方法。YS/T 922-2013规定的73种痕量杂质元素中,K Zn Ge As Se Br Ru Rh等均存在基体相关的质谱干扰,是高纯铜分析的难点。以Rh为例说明Element GD Plus在高纯材料检测中的优势。...
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GB/T 6730.12-1986 2017-09-01 46 GB/T 6730.19-2016 铁矿石磷含量的测定铋磷钼蓝分光光度法 GB/T 6730.19-1986 2017-09-01 47 GB/T 6730.22-2016 铁矿石钛含量的测定二安替吡啉甲烷分光光度法 GB/T 6730.22-1986 2017-11-01 154 GB/T 33236-2016 多晶硅痕量元素化学分析辉光放电质谱法...
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