DIN 51003 E:2021-05
全反射X-射线荧光 总则和定义
Total reflection x-ray fluorescence - Principles and definitions
- 标准号
- DIN 51003 E:2021-05
- 发布
- 1970年
- 发布单位
- /
- 替代标准
- DIN 51003:2022-05
- 当前最新
- DIN 51003:2022-05
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网络研讨会丨轻元素的WDS/SEM检测
同时提供微区X射线荧光光谱仪(Micro-XRF)以及用于微量元素分析的台式全反射X射线荧光光谱仪 (TXRF)。长按关注布鲁克纳米分析www.bruker.cominfo.bna.cn@bruker.com...
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创想X射线荧光光谱仪 为了获得全反射，原级X射线的入射角必须小于临界角(中)，φ。的定义为:入射X射线刚好发生反射现象时的人射角度。忽略在吸收限处的共振和量子效应，由经典色散理论可推出临界角公式1/2中: = (5.4 x 10"Zp\3/A)(2)式中：Z为原子序数；p为密度,g/cm2 ；λ为人射X射线的波长，cm；λ反射体的原子量,g/mol。...
原子荧光光度计与X射线荧光光谱仪的区别
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XRF检测原理
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