近日,国际标准化组织(ISO)正式发布了微束分析领域中的一项国际标准:“基于测长扫描电镜的关键尺寸评测方法”,该标准由中国科学技术大学物理学院和微尺度物质科学国家研究中心丁泽军团队主导制定,是半导体线宽测量方面的首个国际标准,也是半导体检测领域由中国主导制定的首个国际标准,该标准的发布有助于促进半导体评测技术的发展,并提升我国在半导体行业的国际影响力和竞争力。 ...
4月26日至27日,全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分技术委员会(SAC/TC38/SC2,以下简称表面化学分委)2018年年会在中国计量科学研究院(简称中国计量院)昌平院区召开。中国计量院院长方向、表面化学分委委员及相关领域专家三十余人出席会议。会议由表面化学分委主任委员、中国科技大学丁泽军教授主持。图1 参会代表合影 方向对委员们的到来表示欢迎。...
点击上方“TESCAN公司”关注我们吧非常感谢各位老师对本次论坛的关注,为了能为诸多志同道合的朋友们构建一个技术交流平台,我们诚意邀请您加入到“微束分析原位技术应用” 微信群中,群内会发布最新的论坛消息以及会后的资料分享。欢迎您点击下方“阅读原文”报名参会,对我们提出意见和需求,我们会以邮件的方式将邀请函和会议信息发送到您的邮箱!...
近期,牛津仪器纳米分析部演示实验室参加了由宝山钢铁股份有限公司分析测试研究中心举办的BSTCT1704 金属的微束分析能力认证。参加项目为钛铝合金中钛和铝含量的测定,取得了令人满意的结果并获得证书。BSTCT1704认证工作每两年举办一次,这是已是牛津仪器连续第四次获得该证书。...
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