DIN ISO 13067 E:2021-01
微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测量
Microbeam analysis - Electron backscatter diffraction - Measurement of average grain size
DIN ISO 13067 E:2021-01 中，可能用到以下仪器
DIN ISO 13067 E:2021-01相似标准
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XRD、TEM、AFM表征粒径的方式及异同
XRD：采用X 射线衍射法计算纳米粒子的平均粒径是因为高角度(2θ＞50°)X 射线衍射线的Kα1 与Kα2 双线会分裂开，造成线宽化的假象，这会影响实际线宽化测量值。其次，X 射线衍射法测定的是纳米粒子的晶粒度，当纳米粒子为单晶时，测量的直径即为颗粒粒径；当粒子为多晶时，测量的为平均晶粒大小。所以，此时的粒径测量值可能会小于实际粒径值。当小晶体的尺寸和形状基本一致时，计算结果比较可靠。...
XRD和TEM在样品物象上表征的区别
其次，X射线衍射法测定的是纳米粒子的晶粒度，当纳米粒子为单晶时，测量的直径即为颗粒粒径；当粒子为多晶时，测量的为平均晶粒大小。所以，此时的粒径测量值可能会小于实际粒径值。当小晶体的尺寸和形状基本一致时，计算结果比较可靠。但一般粉末试样的具体大小都有一定的分布，谢乐的微晶尺度计算公式需修正，否则只能是近似结果。X射线衍射法是非破坏性检测方法，测量的准确度还与样品内部应力大小有关。 ...
纳米材料粒度测试仪器和方法大全
4.X射线衍射线宽法（XRD） XRD测量纳米材料晶粒大小的原理是当材料晶粒的尺寸为纳米尺度时，其衍射峰型发生相应的宽化，通过对宽化的峰型进行测定并利用Scherrer公式计算得到不同晶面的晶粒尺寸。对于具体的晶粒而言, 衍射hkl的面间距dhkl和晶面层数N的乘积就是晶粒在垂直于此晶面方向上的粒度Dhkl。 优点：可用于未知物的成分鉴定。 ...