GB/T 4058-1995
硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法

Test method for detection of oxidation induced defects in polished silicon wafers

GBT4058-1995, GB4058-1995

2010-06

GB/T 4058-1995 中,可能用到以下仪器设备

 

BG系列磨抛机

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美国力可公司

 

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徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

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宁波华仪宁创智能科技有限公司

 

TRILOS 三辊机

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上海人和科学仪器有限公司

 

TRILOS 三辊机TR80A

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上海人和科学仪器有限公司

 

TRILOS 三辊机TR120A

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上海人和科学仪器有限公司

 

GPX系列研磨抛光机

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CSS200磨抛机

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Chiron 300D金相磨抛机

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Chiron 300DA智能全自动金相磨抛机

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

Chiron 250D金相磨抛机

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Chiron 250DA智能全自动金相磨抛机

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Eppendorf艾本德Galaxy 170R二氧化碳培养箱

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GB/T 4058-1995

标准号
GB/T 4058-1995
别名
GBT4058-1995
GB4058-1995
发布
1995年
发布单位
国家质检总局
替代标准
GB/T 4058-2009
当前最新
GB/T 4058-2009
 
 
本标准规定了硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法。 本标准适用于硅抛光片表面区在模拟器件氧化工艺中诱生或增强的晶体缺陷的检测。

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