IEC 60759 AMD 1-1991
半导体X射线能谱仪的标准试验程序 修改1

Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers; amendment 1

IEC 60759 AMD 1-1991 发布历史

Replaces one sentence in sub-clause 7.4.1 (page 55) and the Figure 15a (page 94).

IEC 60759 AMD 1-1991由国际电工委员会 IX-IEC 发布于 1991-11。

IEC 60759 AMD 1-1991 在中国标准分类中归属于: N54 质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置，在国际标准分类中归属于: 17.240 辐射测量。

IEC 60759 AMD 1-1991的历代版本如下：

• 1991-11  IEC 60759 AMD 1-1991 半导体X射线能谱仪的标准试验程序 修改1

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 IEC 60759 AMD 1-1991 前三页，或者稍后再访问。

注意： 点击下载后，生成下载文件时间比较长，请耐心等待......

标准号

IEC 60759 AMD 1-1991

发布日期

1991-11

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

N54

国际标准分类号

17.240

发布单位

IX-IEC

适用范围

Replaces one sentence in sub-clause 7.4.1 (page 55) and the Figure 15a (page 94).

IEC 60759 AMD 1-1991 中可能用到的仪器设备