BS IEC 60747-5-3-1998
分立半导体器件和集成电路.光电器件.测量方法

Discrete semiconductor devices and integrated circuits. Optoelectronic devices. Measuring methods

 

 

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标准号
BS IEC 60747-5-3-1998
发布日期
1998年01月15日
实施日期
1998年01月15日
废止日期
无
中国标准分类号
L50
国际标准分类号
31.260
发布单位
GB-BSI
适用范围
To be read in conjunction with IEC 60747-1, IEC 62007-1, IEC 62007-2

BS IEC 60747-5-3-1998系列标准

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