JIS R1637-1998
用四点探针排列法测定传导精细陶瓷薄膜电阻率的试验方法

Test method for resistivity of conductive fine ceramic thin films with a four-point probe array

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标准号

JIS R1637-1998

发布日期

1998年01月20日

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

Q32

国际标准分类号

81.060.30

发布单位

JP-JISC

适用范围

この規格は，フアインセラミックス薄膜の抵抗率を4探針法によって試験する方法について規定する。