GB/T 17626.4-1998
电磁兼容 试验和测量技术 电快速瞬变脉冲群抗扰度试验

Electromagnetic compatibility--Testing and measurement techniques--Electrical fast transient/burst immunity test


GB/T 17626.4-1998 中,可能用到以下仪器设备

 

L7650 LD半导体激光器

L7650 LD半导体激光器

滨松光子学商贸(中国)有限公司

 

das·nano太赫兹时域光谱仪ONYX

das·nano太赫兹时域光谱仪ONYX

铂瑞达(北京)科技有限公司

 

GB/T 17626.4-1998



标准号
GB/T 17626.4-1998
发布日期
1998年12月31日
实施日期
1999年12月01日
废止日期
2009-01-01
中国标准分类号
L06
国际标准分类号
33.100
发布单位
CN-GB
代替标准
GB/T 17626.4-2008
适用范围
本标准涉及电气和电子设备对重复性电快速瞬变的抗扰度要求和试验方法。此外,本标准还规定了试验等级的范围和确定了试验程序。 本标准的目的是为评估电气和电子设备的供电电源端口、信号和控制端口在受到重复性快速瞬变(脉冲群)干扰时的性能确定一个共同的能再现的评定依据。 本试验是为了验证电气和电子设备对诸如来自切换瞬态过程(切断感性负载、继电器触点弹跳等)的各种类型瞬变骚扰的抗扰度。 本标准规定了下列几项: --试验电压波形; --试验等级的范围; --试验设备; --试验配置; --试验程序。 标准给出了在“实验室”进行的试验和对设备在最终安装现场进行的“安装后试验”的技术规范。 本标准不对特殊设备或系统的试验进行规定。其主要目的是为所有有关专业标准化技术委员会提供一个通用的基本参考。各有关专业标准化技术委员会(或设备的使用者和制造商)负责选择合适的试验和施加到其设备的严酷度等级。 为了不妨碍协调与标准化的工作,强烈建议有关专业标准化技术委员会或用户与制造商在将来的工作中或修订旧标准时考虑采用本标准中所规定的有关抗扰度试验。

GB/T 17626.4-1998系列标准

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GB/T 17626.4-1998 中可能用到的仪器设备


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