GB/T 17722-1999
金属盖层厚度的扫描电镜测量方法

Gold-plated thickness measurement by SEM


GB/T 17722-1999 中,可能用到以下仪器

 

Markes单管热脱附仪UNITY-xr

Markes单管热脱附仪UNITY-xr

玛珂思仪器(上海)有限公司

 

SENTERRA II共聚焦拉曼显微光谱仪

SENTERRA II共聚焦拉曼显微光谱仪

布鲁克(北京)科技有限公司-光谱仪器

 

EPMA-8050G电子探针显微分析仪

EPMA-8050G电子探针显微分析仪

岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司

 

X荧光镀层测厚仪 Thick 800A

X荧光镀层测厚仪 Thick 800A

江苏天瑞仪器股份有限公司

 

KUDOS 科导 功率可调台式超声波清洗器 SK2200HP

KUDOS 科导 功率可调台式超声波清洗器 SK2200HP

上海人和科学仪器有限公司

 

KUDOS 科导 双频台式超声波清洗器 SK3200LHC

KUDOS 科导 双频台式超声波清洗器 SK3200LHC

上海人和科学仪器有限公司

 

芯硅谷 超声波清洗机

芯硅谷 超声波清洗机

上海阿拉丁生化科技股份有限公司

 

芯硅谷 超声波清洗机

芯硅谷 超声波清洗机

上海阿拉丁生化科技股份有限公司

 

多频率超声波清洗器

多频率超声波清洗器

北京中科科尔仪器有限公司

 

10加仑高容量超声波清洗器

10加仑高容量超声波清洗器

北京中科科尔仪器有限公司

 

安东帕微米压痕仪MHT³

安东帕微米压痕仪MHT³

安东帕(上海)商贸有限公司

 

安东帕微米划痕仪MST³

安东帕微米划痕仪MST³

安东帕(上海)商贸有限公司

 

FemtoTools 微力传感探针及其系列设备

FemtoTools 微力传感探针及其系列设备

上海纳腾仪器有限公司

 

电导率-塞贝克系数扫描探针显微镜

电导率-塞贝克系数扫描探针显微镜

QUANTUM量子科学仪器贸易(北京)有限公司

 

德国徕卡 共聚焦显微镜 TCS SP8 CARS

德国徕卡 共聚焦显微镜 TCS SP8 CARS

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

快速转盘激光共聚焦系统 Leica SD AF

快速转盘激光共聚焦系统 Leica SD AF

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

德国徕卡 激光显微切割 SR GSD 3D

德国徕卡 激光显微切割 SR GSD 3D

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

基恩士 荧光显微成像系统BZ-X800E

基恩士 荧光显微成像系统BZ-X800E

基恩士(中国)有限公司

 

岛津高分辨率扫描探针显微镜 SPM-8000FM型

岛津高分辨率扫描探针显微镜 SPM-8000FM型

岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司

 

扫描探针显微镜 SPM-9700型

扫描探针显微镜 SPM-9700型

岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司

 

Thermo Scientific™ Apreo™ 2 扫描电子显微镜

Thermo Scientific™ Apreo™ 2 扫描电子显微镜

赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

Thermo Scientific™ Verios™ 扫描电子显微镜

Thermo Scientific™ Verios™ 扫描电子显微镜

赛默飞电子显微镜(原FEI)

 

JSM-IT800超高分辨热场发射扫描电镜

JSM-IT800超高分辨热场发射扫描电镜

日本电子株式会社(JEOL)

 

JEM-ARM200F冷场发射球差校正透射电镜

JEM-ARM200F冷场发射球差校正透射电镜

日本电子株式会社(JEOL)

 

JSM-IT100钨灯丝扫描电子显微镜

JSM-IT100钨灯丝扫描电子显微镜

日本电子株式会社(JEOL)

 

JEM-F200新概念冷场发射透射电镜

JEM-F200新概念冷场发射透射电镜

日本电子株式会社(JEOL)

 

JASM-6200大气压扫描电镜

JASM-6200大气压扫描电镜

日本电子株式会社(JEOL)

 

超小型低电压台式透射电子显微镜LVEM5

超小型低电压台式透射电子显微镜LVEM5

QUANTUM量子科学仪器贸易(北京)有限公司

 

透射电镜(TEM)用氮化硅薄膜窗口

透射电镜(TEM)用氮化硅薄膜窗口

上海纳腾仪器有限公司

 

MCL 原子力显微镜用音叉探针

MCL 原子力显微镜用音叉探针

北京欧兰科技发展有限公司

 

MCL MadPLL® 扫描探针显微镜通用控制器

MCL MadPLL® 扫描探针显微镜通用控制器

北京欧兰科技发展有限公司

 

3D纳米结构高速直写机

3D纳米结构高速直写机

QUANTUM量子科学仪器贸易(北京)有限公司

 

对于拍摄大物体很理想 Leica Flexarm Stand

对于拍摄大物体很理想 Leica Flexarm Stand

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

GB/T 17722-1999



标准号
GB/T 17722-1999
发布日期
1999年04月11日
实施日期
1999年12月01日
废止日期
中国标准分类号
N33
国际标准分类号
37.020
发布单位
CN-GB
适用范围
本标准规定了各类金制品的金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法的技术要求,本标准也适用于电子探针仪测量金覆盖层厚度,适用的厚度测量范围为0.2~10μm。 其他金属材料的覆盖层厚度的测量也可参照执行。

GB/T 17722-1999系列标准


GB/T 17722-1999 中可能用到的仪器设备


谁引用了GB/T 17722-1999 更多引用





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号