JIS Z8122-2000
污染监控.术语

Contamination control -- Terminology


JIS Z8122-2000 中,可能用到以下仪器

 

MST-I系列微小强度试验机

MST-I系列微小强度试验机

岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司

 

Leica Cleanliness Expert

Leica Cleanliness Expert

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

 

用于粒子成像测速(PIV)的荧光示踪粒子

用于粒子成像测速(PIV)的荧光示踪粒子

北京欧兰科技发展有限公司

 

JIS Z8122-2000



标准号
JIS Z8122-2000
发布日期
2000年03月20日
实施日期
废止日期
中国标准分类号
Z04
国际标准分类号
01.040.13;13.040.30
发布单位
JP-JISC
适用范围
この規格は,コンタミネーションコントロールに関する な用語及びその定義について定義する。

JIS Z8122-2000 中可能用到的仪器设备


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