X射线和β射线法是无接触无损测量,但装置复杂昂贵,测量范围较小。因有放射源,使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。随着技术的日益进步,特别是近年来引入微机技术后,采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。...
传感器的输出电缆一般采用铜质网状屏蔽,既有静电屏蔽又有电磁屏蔽 的作用。屏蔽材料必须选择导电性能良好的低电阻材料,如铜、铝或镀银铜等。4、低频磁屏蔽干扰如为低频磁场,这时的电涡流现象不太明显,只用上述方法抗干扰效果并不太好,因此必须采用采用高导磁材料作屏蔽层,以便把低频干扰磁感线限制在磁阻很 小的磁屏蔽层内部。使被保护电路免受低频磁场耦合干扰的影响。这种屏蔽方法一般称为低频磁屏蔽。...
X射线和β射线法是无接触无损测量,但装置复杂昂贵,测量范围较小。因有放射源,使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。随着技术的日益进步,是近年来引入微机技术后,采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、、实用化的方向进了一步。...
随着被测物的移动传感器就开始对其表面进行采样,分别测量出目标上下表面分别与上下成对的激光位移传感器距离,测量值通过串口传输到计算机,再通过我们在计算机上的测厚软件进行处理,得到目标被测物体的厚度值。 非接触式纸张测厚仪同样可以测量其他薄膜类、片材类物体的厚度。编辑本段涂镀层测厚仪分类 涂镀层测厚仪根据测量原理一般有以下五种类型: 1.磁性测厚法:适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。...
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