IEC PAS 62164:2000
GaAs MMIC和FET寿命试验的指南

Guidelines for GaAs MMIC and FET life testing

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标准号

IEC PAS 62164:2000

发布

2000年

发布单位

国际电工委员会

当前最新

IEC PAS 62164:2000

 

 

适用范围

寿命测试出于多种目的而进行。为检测婴儿死亡率而进行的测试持续时间较短；除非发生婴儿死亡率的设备百分比极高，否则本文件中指定的样本量还远远不够。可以进行测试以确定特定应用的器件寿命假设给定的 MMIC 产品根据产品的预期用途被指定为功率、通用或低噪声（或小信号）器件。对于低噪声器件和无源元件，射频电压电平足够小，因此可以通过仅施加直流应力条件来准确地模拟应力。本文档适用于封装和未封装的设备。如果器件是裸芯片或封装在除插座之外不适合承受应力的情况下，由于封装不被视为正在测试的产品的一部分，可能会发生额外的故障。如果发生这种情况，在计算预测故障率时应将此类故障从总体中排除。由于在编写这些指南时不太可能了解 MMIC 中的每个结构和故障机制，因此在将本文档的原理应用于特定测试时必须做出一些判断。如果异常情况迫使这些指南出现例外情况，则应在寿命测试报告中注明例外情况。

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