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上一篇文章回顾:宏观X射线荧光成像(MA-XRF)01分 类便携式X射线荧光(portable X-ray fluorescence, pXRF )斑点分析是一种非侵入-非破坏式分析技术。光谱仪无需接触检测对象,也未出现过检测对象因 pXRF斑点分析发生辐射损伤的情况。02说 明pXRF斑点分析是一种表面元素分析技术,是艺术品和其他文物材料研究领域最便利、最常用的技术。...
在质子X 射线荧光分析中所测得的X 射线谱是由连续本底谱和特征X 射线谱合成的叠加谱。样品中一般含有多种元素,各元素都发射一组特征X 射线谱,能量相同或相近的谱峰叠加在一起,直观辨认谱峰相当困难,需要通过复杂的数学处理来分解X 射线谱。解谱包括本底的扣除、谱的平滑处理、找峰和定峰位、求峰的半高宽和峰面积。谱的数学解法已研究出多种,并已编制成计算机程序。...
本文对近二十年来X射线荧光光谱仪在稀土分析方面的应用进行了综述。总结了环境、矿物、稀土富集物、单一稀土化合物、稀土金属、合金、稀土功能材料以及过程分析中稀土元素的X射线荧光光谱分析方法,检测方法涉及钢铁、有色金属、石油化工、地质、生物、电子材料等领域。展望了X射线荧光分析方法在稀土行业的应用前景。 更多还原...
X射线荧光光谱通常用于分析均匀样品中的成分含量。对于大多数样品来讲,样品中被激发的各个元素的X射线荧光只来自于样品表面,样品内部的X射线荧光被样品本身吸收了。所以,X射线荧光信号的强度与样品的厚度无关。这种样品称之为无限厚样品。 当样品很薄时,比如镀层样品,样品中被激发的X射线荧光可能会穿透镀层,镀层的厚薄会影响X射线荧光信号的强弱,镀层越厚,镀层中被激发的X射线荧光信号就越强。 ...
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