EN ISO 2064:2000
金属和其他无机覆盖层.厚度测量的定义和一般要求 ISO 2064-1996

Metallic and Other Inorganic Coatings - Definitions and Conventions Concerning the Measurement of Thickness ISO 2064: 1996

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标准号: EN ISO 2064:2000
发布: 2000年
发布单位: 欧洲标准化委员会
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⒊测量时要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。 ⒋测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。 ⒌测量前要注意周围其他的电器会不会发生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。 ⒍测量时要注意不要在转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。 ...

10个能够影响磁性涂层测厚仪测量因素

8、测量过程中探头的放置，探头的放置方式对测量有影响，在测量中使探头与试样表面保持垂直。这是涂层测厚仪（其他测厚仪，如超声波测厚仪也是这样）测量中要注意的问题。　　9、试片的变形及试片本身的误差，探头使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上会出现一定的误差。　　10、测量次数，对于数据要求经度比较高的测量要实行多次测量求平均值，精度要求更高的可以多台仪器测量求平均值。　　...

表面涂层测厚仪

b 基体金属厚度检查基体金属厚度是否超过临界厚度，如果没有，可采用3.3中的某种方法进行校准。c 边缘效应不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。d 曲率不应在试件的弯曲表面上测量。e 读数次数通常由于仪器的每次读数并不完全相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。...

影响测量精度的原因（1） 覆盖层厚度大于25µm时,其误差与覆盖层厚度近似成正比;（2）基体金属的电导率对测量有影响,它与基体金属材料成分及热处理方法有关;（3）任何一种测厚仪都要求基体金属有一个临界厚度,只有大于这个厚度,测量才不会受基体金属厚度的影响;（4）涡流测厚仪对式样测定存在边缘效应,即对靠近式样边缘或内转角处的测量是不可靠的.（5）试样的曲率对测量有影响,这种影响将随曲率半径的减小明显地增大...

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