SJ 20233-1993
IMPACT-Ⅱ型半导体分立器件测试系统检定规程

Verification regulation of model IMPACT-II semiconductor discrete device test sysytem

SJ 20233-1993 发布历史

本检定规程规定了IMPACT-Ⅱ型半导体分立器件测试系统的检定条件、检定项目、检定方法、检定结果处理及检定周期。 本检定规程适用于IMPACT-Ⅱ型半导体分立器件测试系统的检定。对于IMPACT-Ⅲ型半导体分立器件测试系统的检定。也可参照本规程进行。

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标准号

SJ 20233-1993

发布日期

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

L01

发布单位

CN-SJ

适用范围

本检定规程规定了IMPACT-Ⅱ型半导体分立器件测试系统的检定条件、检定项目、检定方法、检定结果处理及检定周期。 本检定规程适用于IMPACT-Ⅱ型半导体分立器件测试系统的检定。对于IMPACT-Ⅲ型半导体分立器件测试系统的检定。也可参照本规程进行。