GB/T 4589.1-2006
半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范
Semiconductor devices. Part 10: Generic specification for discrete devices and integrated circuits
GBT4589.1-2006, GB4589.1-2006
- 标准号
- GB/T 4589.1-2006
- 别名
- GBT4589.1-2006, GB4589.1-2006
- 发布
- 2006年
- 采用标准
- IEC 60747-10:1991 IDT
- 发布单位
- 国家质检总局
- 当前最新
- GB/T 4589.1-2006
- 被代替标准
- GB/T 4589.1-1989
- 适用范围
- 本规范构成国际电工委员会电子元器件质量评定体系（IECQ）的一部分。 本规范是半导体器件（分立器件和集成电路，包括多片集成电路，但不包括混合电路）的总规范。 本规范规定了在IECQ体系内采用的质量评定的总程序，并给出了下述方面的总原则： ——电特性测试方法； ——气候和机械试验； ——耐久性试验。
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